電子計測ソリューション
電子計測ソリューション
ラインナップ
電子計測ソリューション
テスト装置
テスト環境サポート
テスターサポート
・半導体、太陽電池、LED、各種テスタの設計製作をサポートいたします。
・PXIベースのテスター＆オプションの設計製作をサポートいたします。
・デバイス評価用ラックアンドスタックテスター設計製作をサポートいたします。
アプリケーションサポート
・各種テスター向けエミュレータの設計製作をサポートいたします。
・各種ドライバ・インタフェイスの設計開発をサポートいたします。
・テストプログラム開発、デバイスインタフェイスボード開発をサポートいたします。
サービスサポート
・各種テスタのメンテナンスを行います。
・各種テスタ・オプションの修理を行います。
・オンサイトサポートプログラム開発のトレーニングを提供いたします。
プローバーの紹介
マニュアルプロ―バー
・評価環境に合わせ、ポジショナー、プローブの設計製作も行います。
・チャックはカスタム仕様で対応いたします。
・加熱、TAIKOウエハーの対応も可能です。
セミオートプローバ
・各種テスターとの接続が可能です。
・チャックはカスタム仕様で対応いたします。
・TAIKOウエハーの対応も可能です。
・GPIB、TTL、カスタムインタフェイスの開発をサポートいたします。
・マッピング処理機能の搭載が可能です。
セミオートエージングプローバー
・エージング温度 常温～250℃
・各種テスタとの接続が可能です。
・チャックはカスタム仕様で対応いたします。
・TAIKOウエハーの対応も可能です。
・GPIB、TTL、カスタムインタフェイスの開発をサポートいたします。
・マッピング処理機能の搭載が可能です。
MEMSプローバー（FMAP-1000）
３軸加速度センサテスタ校正装置（MCS-1000）
パワーデバイス向けプローブカード
パワーデバイス向けプローブ（積層プローブ）
高周波ギガ帯域プローブ
汎用ソケット
信頼性評価用アルミソケット